講演情報

[17p-S2_202-6]耐高温中性子検出器に向けたBGaNダイオードの膜厚依存性評価

〇工藤 涼兵1、小久保 瑛斗2、都木 克之3、岸下 徹一4、櫻井 良憲5、八島 浩5、牧野 高紘6、大島 武6、本田 善央7、天野 浩7、井上 翼1,8、青木 徹1,3、中野 貴之1,3,8 (1.静大創造、2.名大院工、3.静大電研、4.高エネ研、5.京大複合研、6.量研、7.名大IMaSS、8.静大工)

キーワード:

BGaN、中性子検出器、半導体