講演情報
[17p-S2_203-5]電界放射角度分布（FAD)を用いた有機エレクトロニクス材料研究
〇山田 洋一1 (1.筑波大数理)
キーワード：
電界電子放出、有機半導体、グラフェン
電界放射顕微鏡(FEM)・電界イオン顕微鏡(FIM)は表面科学黎明期に確立した投影型顕微鏡で、現在の材料研究での利用は稀だが、原子・分子分解での実時間、実空間観察は依然ユニークである。本講演では有機エレクトロニクス材料への応用例を紹介し、PADから軌道再構成する光電子トモグラフィーに倣い、電界放出角度分布(FAD)から分子軌道に関する情報の抽出の可能性を議論する。