講演情報
[17p-W2_402-11]無電解金めっき(ELGP)ナノギャップ電極間における単分子接合収率の溶媒依存性
〇(B)三苫 昌士1、伊澤 誠一郎1、梶川 浩太郎2、新谷 亮3、真島 豊1 (1.東京科学大フロンティア研、2.東京科学大工電気電子、3.阪大基礎工物質創生)
キーワード：
単分子接合、ナノギャップ電極、溶媒依存性
本研究では、電子線リソグラフィー（EBL）と無電解金めっき（ELGP）により作製したヘテロエピタキシャル球状（HS）Au/Ptナノギャップ電極を用いて、単一分子接合（SMJ）の形成収率の溶媒依存性を調査した。検討した4種類の溶媒のうち、特定の溶媒で最大26%のSMJ形成収率を達成した。これらの結果は、高信頼性単一分子トランジスタの集積化に向けた重要な指針を提供する。