講演情報
[17p-WL1_401-6]セラミック誘電体の絶縁破壊予測に向けて
〇桑野 太郎1、稲葉 真徳1 (1..東京科学大学)
キーワード：
絶縁破壊、セラミックキャパシタ
エレクトロニクスが成熟し、電力インフラや電子機器の動作電圧が増加の一途を辿る中、信頼性確保に対する技術的要求は極限化しつつある。セラミックキャパシタは小型・軽量かつ高温・高電場・高周波で低損失動作可能だが、短絡故障という致命的な課題を抱える。本講演では、さまざまな誘電体・絶縁体における絶縁破壊の特徴を総括し、セラミックキャパシタの現状と課題、および短絡故障の解決策について議論する。