[18a-M_123-1~13] 12.2 評価・基礎物性

11:00 〜 11:15奨励賞エントリー

[18a-M_123-8] エポキシ/銀接合界面のSFGシミュレーションによる分子挙動の解析

〇(M1)勝守 光太郎¹、池田 美咲¹、宮前 孝行¹、浮田 昌也²、若本 恵佑² (1.千葉大院工、2.ローム(株))

キーワード：

接着、界面化学、和周波発生分光法

電力変換用パッケージ品において、エポキシ/銀接合界面の熱信頼性試験後の剥離が課題となっている。本研究では、多層薄膜干渉モデルによりエポキシ/酸化銀/銀のSFGスペクトルをシミュレーションし、150℃長時間加熱で生じるピーク反転・強度変化を酸化銀膜厚変化で再現した。これにより、埋もれた界面の分子配向と酸化層成長を非破壊的に推定できる。