講演情報
[18a-PB3-6]mxdCMOS検出器を用いた蛍光XAFS計測システムの開発
〇宇留賀 朋哉1,2、金子 拓真1,2、工藤 統吾2、小林 和生2、東末 敏明3、今井 英人1,4、内本 喜晴1、初井 宇記3 (1.京大、2.高輝度セ、3.理研、4.FC-Cubic)
キーワード：
XAFS、蛍光法XAFS、X線検出器
XAFS法は、試料内に含まれる測定目的元素のX線吸収スペクトルを計測することにより、化学状態や局所構造情報を元素選択に得る強力な分析手法である。我々は、希薄試料に対し迅速な蛍光XAFS計測を実現する計測システムの開発を進めている。本報告では、モノリシック多素子シリコンドリフト検出器mxdCMOSを用いた迅速蛍光XAFSシステムに対するフィジビリティスタディの結果について報告を行う。