講演情報
[18a-WL2_101-6]Eu添加GaNにおける歪・発光の同点計測系の構築と評価
〇(B)樋之口 裕也1、久保 穂高2、森 恵人2、藤原 康文3、小島 一信2、市川 修平2,4 (1.阪大工、2.阪大院工、3.立命館大総研、4.阪大電顕センター)
キーワード:
希土類添加半導体、Eu添加GaN、顕微ラマン分光
単一基板上に同一材料系で広色域RGBマイクロLEDを実現するにあたり、Eu添加GaNを用いた赤色LEDが注目を集めている。マイクロLED作製プロセスなどによる局所的な歪変化に対する、Eu3+イオンの周辺局所構造の変化を可視化する手法として、(0001)サファイア基板上にMOVPEにより成長したGaN:Eu薄膜に対して、色素レーザを用いて、フォトルミネッセンス測定とラマン分光測定の同点・同時計測系を構築し、GaN:Euの歪と発光特性を評価した。
