[J012] 電子情報機器，電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(3)

15:45 〜 16:00

[J012-18] 衝突噴流の間欠化による伝熱促進と流れ構造の研究（衝突面とノズル間距離の影響）

〇福江 高志¹、小林 昇龍¹、小林 大希¹、畠山 潤平²、白川 英観² (1. 金沢工業大学、2. 富山高等専門学校)

キーワード：

衝突噴流、強制対流熱伝達、間欠化、電子機器の冷却