[J012] 電子情報機器，電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(3) | 日本機械学会 2026年度年次大会

セッション詳細

解析･設計･機械要素部門横断セッション：J012 電子情報機器，電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御

2026年9月7日(月) 14:15 〜 16:15

6A-204(6A号館)

座長:福江高志 (金沢工業大学)、廣川智己(兵庫県立大学)

14:15 〜 14:30

〇井﨑泰斗¹、荒尾修¹ (1. （株）デンソー)

14:30 〜 14:45

〇中山凌¹、橋國克明¹、宮崎康次¹ (1. 九州大学)

14:45 〜 15:00

〇西悠利¹、廣川智己¹、河南治¹ (1. 兵庫県立大学大学院)

15:00 〜 15:15

〇池本陽介¹、廣川智己¹、河南治¹ (1. 兵庫県立大学)

15:15 〜 15:30

〇畠山潤平^1,2、近川公介¹、福江高志²、白川英観¹ (1. 富山高等専門学校、2. 金沢工業大学)

15:30 〜 15:45

〇王萌蕾¹、守裕也¹、大川富雄¹、沈青¹、楊永閣¹ (1. 電気通信大学)

15:45 〜 16:00

〇福江高志¹、小林昇龍¹、小林大希¹、畠山潤平²、白川英観² (1. 金沢工業大学、2. 富山高等専門学校)

16:00 〜 16:15

〇藤澤古詩¹、福江高志¹、畠山潤平²、白川英観² (1. 金沢工業大学、2. 富山高等専門学校)