画像工学（深層学習）

13:40 〜 13:50

[O-375] 学習可能なpositional embeddingとmask predictorを用いた異常検知ViTモデル

西川 隆¹, 中山 良平¹, 木戸 尚治² (1.立命館大学大学院　理工学研究科, 2.大阪大学放射線科学基盤機構/大阪大学大学院医学系研究科)

閲覧にはパスワードが必要です

モバイルアプリで演題アブストラクトを閲覧する場合は、抄録パスワードが必要です。

ログイン

または