講演情報

[P-074]MVビーム照射中のkV撮影画像に対する散乱線の特性評価

樋口 大規1, 伊良皆 拓2, 西山 智博1, 水上 大空1, 伊藤 誉志之1, 小笹 博之1 (1.京都桂病院 放射線技術科, 2.東洋メディック株式会社 RT物理課)

閲覧にはパスワードが必要です

モバイルアプリで演題アブストラクトを閲覧する場合は、抄録パスワードが必要です。
ログイン
または