[8P] VSX（固体）

[8P-41] 電場印加下スピンARPES測定システムの開発と現状

*浅野 友彦¹、西本 直史²、佐藤 仁³、藤澤 唯太³、角田 一樹³、奥田 太一^3,4,5、宮本 幸治³ (1. 広大院先進理工、2. 広大理、3. 広大放射光、4. 広大WPI-SKCM2、5. 広大半導体)

キーワード：

スピンARPES、電場印加測定、スピンホール効果