講演情報

[9P-20]SPring-8 BL37XU走査型顕微分光計測におけるXAFS/XRF/XRDマルチモーダル計測

*関澤 央輝1、新田 清文1 (1. 高輝度光科学研究センター)

キーワード:

XAFS、XRF、XRD、走査型X線顕微鏡、顕微分光


コメント

コメントの閲覧・投稿にはログインが必要です。ログイン