講演情報

[9P-69]2次元X線ピクセル検出器を用いた希薄濃度試料に対する迅速蛍光XAFS計測

*宇留賀 朋哉1,2、金子 拓真1、井上 朋直3、作村 拓人3、今井 英人1,4、内本 喜晴1 (1. 京都大学、2. 高輝度光科学研究センター、3. リガク、4. FC-Cubic)

キーワード:

XAFS、希薄試料、蛍光XAFS、2次元X線検出器


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