[8D3] X（XAFS）

16:15 〜 16:30

[8D3-05] テンダーX線スペクトロタイコグラフィ計測システムの開発と硫黄化学状態の3次元観察

*佐々木 雄平^1,2,3、金子 房恵^1,4、石黒 志^1,2、阿部 真樹^1,2,5、高澤 駿太郎^1,2、上松 英司¹、大川 成^1,2,3、池永 美宙^1,2,3、高橋 幸生^1,2,5,6 (1. 東北大学国際放射光イノベーション・スマート研究センター、2. 理研放射光センター、3. 東北大学大学院工学研究科、4. 住友ゴム工業株式会社、5. 東北大学多元物質科学研究所、6. 東北大学金属材料研究所)

キーワード：

NanoTerasu BL10U、X線タイコグラフィCT、硫黄化学状態