講演情報

[E05-22p-VII-05]高輝度テラヘルツ波光源を用いたライニング配管腐食の偏光非破壊検査

*梶川 敬介1,2、安井 潤1、瀧田 佑馬2、MULDERA Joselito2、De Los Reyes Alexander2、南出 泰亜2 (1. 三菱重工業、2. 理研光量子)

閲覧にはパスワードが必要です

予稿パスワード認証
予稿の閲覧には専用のアカウントが必要です。予稿は、会期1日目の1月21日(火)に公開します。