[C-3_C-4] 光エレクトロニクス／レーザ・量子エレクトロニクス

9:30 〜 9:45

[C-3_C-4-42] 低損失相変化光スイッチに向けたMnTe薄膜の損失評価

〇矢崎 智也¹、河島 整²、桑原 正史²、津田 裕之¹ (1. 慶應義塾大学大学院理工学研究科、2. 産業技術総合研究所)

キーワード：

光スイッチ、シリコンフォトニクス、相変化材料