The 106th CSJ Annual Meeting

Chair, Symposium organizer: Yuta Uetake, Kotaro Fujii, Yohei Nakanishi

放射光を利⽤したX 線吸収分光法（XAFS）は、物質の電⼦状態や局所構造を元素選択的に明らかにで きる強⼒な化学分析⼿法であり、その利⽤範囲は、触媒、錯体、電池などの材料・化学分野から、地球 科学に⾄るまで多岐にわたっている。⼀⽅で、XAFS 実験には⾼度な専⾨知識や技術が求められるとの 認識が根強く、未経験の研究者にとって依然として参⼊障壁が⾼いのが現状である。本企画では、XAFS を利⽤した研究を展開している第⼀線の研究者や、ビームラインの運営に携わる専⾨家をお招きし、基 礎から実践までの解析⼿法、さらには先端研究や産業利⽤における最新の成果について紹介いただくこ とで、XAFSの可能性と魅⼒を実感できる場を提供する。