Presentation Information

[14p-K403-3]Formation of Diamond Trench {111} Flat Sidewalls by Thermochemical Etching

〇Masatsugu Nagai1, Tsubasa Matsumoto2, Satoshi Yamasaki2, Norio Tokuda2, Moriyoshi Haruyama1, Yukako Kato1, Hironori Yoshioka1, Hitoshi Umezawa1, Hiromitsu Kato1, Masahiko Ogura1, Daisuke Takeuchi1, Yoshiyuki Miyamoto1, Toshiharu Makino1 (1.AIST, 2.Kanazawa Univ.)

Keywords:

Diamond,Etching,Nickel

究極の低損失化を達成し得るトレンチ型反転層チャネルダイヤモンドMOSFETの実現には、{111}側面を備えたダイヤモンドトレンチの形成が必要である。近年我々は、Niと水蒸気を用いた独自の熱化学エッチング技術を開発し、従来技術では困難であった上記トレンチの形成を可能にした。しかし、側面平坦性は不十分であった。本研究では、本技術の温度条件の最適化を通して、十分に(ナノスケールで)平坦な{111}側面の形成に成功した。

Comment

To browse or post comments, you must log in.Log in