Presentation Information
[15a-K401-7]Effect of External Stress on Electrical Properties of N-polar GaN/Al0.9Ga0.1N/AlN HEMT
〇(DC)Aina Hiyama Zazuli1, Kai Fujii1, Ryosuke Ninoki1, Taisei Kimoto1, Fumiya Yamanaka1, Nobuteru Hirata1, Haruki Danbata1, Amane Hayashiuchi1, Satoshi Kurai1, Narihito Okada1, Yoichi Yamada1 (1.Grad. School of Sci. & Tech. for Innovation, Yamaguchi Univ.)
Keywords:
N-polar GaN,External stress
意図的にHEMTの結晶に歪を加えることによるトランジスタ特性の制御が期待できることから、本研究ではN極性GaN HEMT構造に様々な外部応力を加えたときの電気特性の変化について調べた。
結果、N極性GaNは引っ張り歪により電流値が増加し、圧縮歪によって電流値は増加した。また、ホール効果測定を行ったことで、この変化はピエゾ分極による影響にくらべ移動度の変化による影響のほうが大きいことが分かった。
結果、N極性GaNは引っ張り歪により電流値が増加し、圧縮歪によって電流値は増加した。また、ホール効果測定を行ったことで、この変化はピエゾ分極による影響にくらべ移動度の変化による影響のほうが大きいことが分かった。
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