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[15p-K401-7]Effects and characterization of low-temperature annealing of n-electrodes in AlGaN-based UV-B LDs

〇(B)Ryota Watanabe1, Yoshinori Imoto1, Ryoya Yamada1, Takumu Saito1, Shundai Maruyama1, Rintaro Miyake1, Shogo Karino1, Yusuke Sasaki1, Sho Iwayama1, Hideto Miyake2, Satoshi Kamiyama1, Tetsuya Takeuchi1, Motoaki Iwaya1 (1.Meijo Univ., 2.Mie Univ.)

Keywords:

UV-B LD,AlGaN,annealing

我々は,AlGaN系UV-Bレーザーダイオード(LD)の高性能化に向けて,結晶成長温度を850℃に低温化で急峻なヘテロ接合の形成および,キャリア注入効率の増大を確認した.しかし,n型電極のオーミック接触形成に800~900℃程度の比較的高温でのアニールが必要とされ,本研究のLDでも900℃で3分間のアニールによってオーミック電極を形成している.本報告では,n型電極アニールの低温化およびそのLD性能への影響について検討した結果を示す.

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