講演情報

[2I10]放射線環境下におけるX線残留応力測定装置の開発

*稲垣 博光1、丸山 洋一2 (1. 中部電力、2. パルステック工業)

キーワード:

残留応力測定、X線回折、放射線環境

閲覧にはパスワードが必要です

ログイン
または

コメント

コメントの閲覧・投稿にはログインが必要です。ログイン