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15:40 〜 15:55
[2I10]
放射線環境下におけるX線残留応力測定装置の開発
*稲垣 博光
1
、丸山 洋一
2
(1. 中部電力、2. パルステック工業)
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キーワード:
残留応力測定、X線回折、放射線環境
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