講演情報

15:30 〜 15:45

[S6-3_1_19]X線光電子分光法によるシリコン酸化物系薄膜負極のオペランド反応解析

〇岩間司^1,2、杉本稜介³、大西剛²、春田正和⁴、土井貴之³、増田卓也^1,2 (1. 北海道大学、2. 物質・材料研究機構、3. 同志社大学、4. 近畿大学)