セッション3（学生講演）

11:15 〜 11:30

[S15_3_07(学生講演)] Development of a Novel 2D Image Analysis Method for Quantitative Evaluation of Electrochromic Device Properties

〇サルカル シファ^1,2、Yoshida Takefumi³、Higuchi Masayoshi^1,2 (1. Osaka University、2. National Institute for Materials Science (NIMS)、3. Wakayama University)