[C-5] 機構デバイス

14:30 〜 14:45

[C-5-04] 600VDC/10A回路内で発生する開離時アークの強制分断におけるPTFE製の分断板及び板受けの耐久性向上

○鈴木 瑠維¹、関川 純哉¹ (1. 静岡大学)

キーワード：

開離時アーク、アーク消孤、耐久性