[D-12A] ﾊﾟﾀｰﾝ認識・ﾒﾃﾞｨｱ理解A

9:30 〜 9:45学術奨励賞候補

[D-12A-13] AIを用いた破面のSEM画像分析技術

○杉山 和弘¹、内田 美幸¹、廣瀬 佑介¹、中鳥 なつみ²、土橋 翔一²、渡邉 興一² (1. 株式会社東芝、2. 東芝テック株式会社)

キーワード：

AI、画像処理、破面解析