講演情報

[D-21-03]シングルラベル画像認識器に対する段階的モデル複製に基づくModel Inversion Attack

○森 光1、中村 和晃1 (1. 東京理科大)
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キーワード:

モデル反転攻撃、複製モデル、シングルラベル画像認識器