講演情報
[N-1-23]Determining Noise Contamination Level with Variable Minimal Diagonal Line Length of Recurrence Quantification Analysis
○スヴィリドヴァ ニーナ1,2 (1. 東京都市大学、2. 東京大学国際高等研究所ニューロインテリジェンス国際研究機構)
キーワード：
Nonlinear dynamics、Noise contaminated data、Recurrence quantification analysis