講演情報

[GS07-1-04]サンプリングモアレ法によるBOS計測のの簡易・高精度化

〇竹山 真央1、藤原 広太1 (1. 電力中央研究所)

キーワード:

background oriented schlieren法、サンプリングモアレ法、可視化計測、画像処理