若手ポスター-1

[Y1022] 容器厚さ未知条件下でのXRF分析によるウラン濃度推定に向けた容器厚さ補正法の基礎検討

○石田 敬洋^1,2、柳澤 右京^1,3、松山 嗣史^4,1、塚原 剛彦³、浅井 竜哉^2,1、吉井 裕¹ (1. QST、2. 福井大、3. 東京科学大、4. 岐阜大)

キーワード：

X線分析