講演情報

[Y1023]低濃度溶液試料分析のためのガラス基板上大容量試料蒸発濃縮法による高感度TXRF分析

○柳澤 右京1,2、木村 基哲2、王 慧1、松山 嗣史3,1、酒井 康弘4,1、塚原 剛彦2、吉井 裕1,4 (1. QST、2. 東京科学大、3. 岐阜大、4. 東邦大)

キーワード:

全反射蛍光X線分析、微量分析、ウラン