講演情報

[P3008]DIP型とGC型IAイオン源ユニットの測定対象成分の比較:揮発性~難揮発性化合物の分子イオン計測

○三島 有二1、斎藤 元明1、戸野倉 賢一2、藤井 麻樹子3、津越 敬寿4 (1. (株)神戸工業試験場、2. 東大新領域、3. 横浜国大院環境情報、4. (国研)産総研)

キーワード:

イオン付着イオン化法、フラグメントレスイオン化法、網羅的検出法、質量分析、スクリーニング分析研究懇談会