一般ポスター-2

[P3025] 磁場を応用した新しいグロー放電イオン源（MFGD®)を搭載したグロー放電質量分析装置による高感度分析
ー非鉄金属試料・半導体・絶縁性試料に対する信号強度増幅効果の検証ー

○高橋 孝広¹ (1. グローテクノロジー)

キーワード：

GD-MS、固体試料直接分析、MFGD