セッション詳細

31:計測原理一般-1

2026年5月30日(土) 15:15 〜 15:45
E会場(中会議室1)
座長:兼清 泰正(北見工業大学)

[E1102]キャビティリングダウン分光法を用いた低露点計測

○阿部 恒1 (1. 産業技術総合研究所)

[E1103]電解電子スピン共鳴分析と分光スペクトルによる共反応物型電気化学発光機構の解析

○久保田 恒喜1、遠藤 彩音1、井上(安田) 久美1 (1. 山梨大学)