講演情報

[19p-A306-6]ガラスキャピラリーを用いたイオンマイクロビームの超微粒子原子核乾板によるビームプロファイルの精密測定

〇宮崎 晴吉1、白石 卓也2、池田 時浩3、中 竜大1、佐伯 加奈1、ダウディ 由莉香1、鈴木 大貴1、小林 知洋3、稲吉 琴子1、金 衛国1 (1.東邦大理、2.神奈川大理、3.理研)

キーワード:

固体飛跡検出器,キャピラリー,イオンビーム