講演情報
[20a-B203-2]高感度偏光イメージングシステムを用いたTHz電磁界イメージング
〇(DC)岡田 竜馬1,2、水野 麻弥2、長岡 智明2、竹原 浩成1、春田 牧人1,3、田代 洋行1,4、太田 淳1、笹川 清隆1,2 (1.奈良先端大、2.情報通信機構、3.千歳科学技術大、4.九州大)
キーワード：
THz電磁界イメージング,高感度偏光イメージセンサ,CMOS偏光イメージセンサ
本研究では，THz帯の入射電力密度分布の測定を目的に，THz電磁界分布を測定するシステムを開発した．提案手法では，多層カーボンナノチューブ薄膜をTHz吸収体として，照射されたTHzを熱に変換し，これを張り付けたLiNbO3結晶の熱による複屈折率の変化を測定した．この複屈折測定において我々が研究してきた高感度偏光イメージングシステムを用いることで，高速なTHz電磁界分布測定を可能とした．