[20p-C301-1~13] 11.2 薄膜，厚膜，テープ作製プロセスおよび結晶成長

13:15 〜 13:30

[20p-C301-2] ナノインデンターを用いたREBCO線材の硬さ評価の検討

〇寺西 亮¹、浦中 智貴¹、立木 実²、松本 明善²、井上 昌睦³、山田 穣⁴ (1.九大工、2.NIMS、3.福工大、4.中部大)

キーワード：

REBCO線材,硬さ評価,ナノインデンター

REBa₂Cu₃O_y (REBCO)薄膜は、膜中への磁束ピン止め点導入による高性能化の材料開発が進められてきており、高磁場マグネットへの応用が期待されている。今後は、線材の電磁気的特性のほか機械特性に関する情報も重要となり、その一つとなるREBCO層の硬さについての知見も材料開発の一助となると考える。本研究では、ナノインデンターを用いてREBCO層の硬さを適切に評価するために、評価時の制御因子が測定値へ及ぼす影響を調査した。