[20p-D903-1~16] 12.2 評価・基礎物性

15:45 〜 16:00奨励賞エントリー

[20p-D903-8] SERSを用いたナフタレン単分子接合のダイオード特性の起源の解明

〇(M2)本間 寛治¹、金子 哲¹、塚越 一仁²、西野 智昭¹ (1.東工大理、2.物材研MANA)

キーワード：

単分子接合,表面増強ラマン散乱(SERS)

単分子接合における整流特性は分子素子開発の観点で重要である。しかし、対称な分子でも整流性が発現するなどその起源は曖昧である。本研究では、ナフタレン単分子接合を作製し電流-電圧(I-V)特性と表面増強ラマン散乱(SERS)の同時計測を行うことで、整流性を示す単分子接合の分子-電極相互作用を評価した。その結果、非対称なI-V特性は、片側の電極と分子が強く相互作用する吸着構造をもつことに起因することを見出した。