講演情報
[21p-P14-2]アセチレンのデュアルコム分光によるスペクトル規格化
〇(M1)内山 竜成1、武子 尚生1、窪田 光佑1、湯本 拓実1、杉山 陽平2、洪 鋒雷2、中嶋 善晶1 (1.東邦大学、2.横浜国立大学)
キーワード：
光周波数コム,分光,規格化
本研究では，デュアルコム分光法で得られるインターフェログラムのセンターバーストと自由誘導減衰(FID)を時間軸上で分離し，ベースラインスペクトルを導出し，規格化透過スペクトルを取得した．高精度分光におけるベースライン補正技術と比較することで，精度評価を行う．