講演情報
[22p-A307-11]液中局所電位分布計測技術を用いたAl合金表面におけるナノスケール腐食機構解析
〇(M2)小西 沙和1、山本 伸之介1、平田 海斗2、小澤 敬祐3、福間 剛士1 (1.金大、2.名大、3.神戸製鋼所)
キーワード：
腐食,原子間力顕微鏡(AFM)
Al-Si-Mg合金は高い比強度と耐食性を持つ合金であるが、不可避不純物であるFeにより金属間化合物（IMP）を形成する。これが腐食電池を形成し、腐食進行を招くと考えられているが、直接観察されておらず未解明な点が残されている。我々はオープンループ電位顕微鏡と呼ばれる液中局所電位分布計測技術を開発してきた。本研究では、この技術を用いて、IMP周辺で生じる腐食挙動をナノスケールで液中観察し、腐食メカニズムの解明を目指した。