講演情報
[22p-A501-8]線状欠陥を含むナノグラフェンにおける電子状態の第一原理計算
〇(D)李 君寰1、稲垣 耕司1、有馬 健太1 (1.阪大院工)
キーワード：
ナノグラフェン,走査型トンネル顕微鏡,第一原理計算
グラフェン中の局所欠陥は、様々な工学分野で重要な役割を持つ。我々は、走査型トンネル顕微鏡により、ナノグラフェン上で長方形状の周期を持つ奇妙な超構造を可視化した。次に、エッジ欠陥が対向したグラフェンナノリボンの電子構造を第一原理計算し、長方形状格子の起源を考察した。そして、特定のリボン幅と電圧での計算が、実験結果と似た電子状態を示した。また、シワ状の欠陥構造を導入したリボンの計算結果を報告する。