講演情報

[22p-P07-49]ケルビンプローブフォース顕微鏡による金属-二次元材料コンタクト界面の評価

〇岡田 光博1、沖川 侑揮1、遠藤 尚彦2、張 文馨1、岡田 直也1、宮田 耕充2、久保 利隆1、入沢 寿史1、山田 貴壽1 (1.産総研、2.都立大)

キーワード:

遷移金属ダイカルコゲナイド,ケルビンプローブフォース顕微鏡,金属-半導体接合