講演情報
[23a-12J-9]シリコン量子ビット素子のばらつき評価に向けた初期的検討
〇加藤 公彦1、浅井 栄大1、岡 博史1、飯塚 将太1、更田 裕司1、稲葉 工1、森 貴洋1 (1.産総研)
キーワード：
量子ビット,ばらつき,シミュレーション
量子コンピュータに向けた大規模集積可能な量子ビットとして、Si fin型量子ドット構造が着目される。集積された多数の素子を高い忠実度で操作するためには、マルチゲートを使用して素子内のポテンシャル分布を素子間ばらつき無く制御することが必須である。しかしながら、現在では、ばらつき度合いの定量評価手段すら十分ではない。そこで、デバイスシミュレーションにより、高い精度でのばらつき評価に向けた初期的検討を行った。