講演情報
[24a-12E-8]放射線起因バーンアウトによる破壊痕におけるキャパシタの容量の影響
〇中本 耀1、古田 潤1、小林 和淑1、藪内 美智太郎2、熊代 成孝2 (1.京都工芸繊維大学、2.ルネサスエレクトロニクス株式会社)
キーワード：
シングルイベントバーンアウト
電気自動車の普及に伴い，パワーデバイスの需要が増加し，信頼性向上のためには放射線対策が不可欠である．特に，放射線による永久故障の一種であるSEB（Single Event Burnout）に着目し，異なるキャパシタ容量（15μFから1nFまで）で測定回路を用いてSi IGBTのSEBによる破壊痕を評価した．キャパシタ容量が小さいほど破壊痕が小さくなった．これは減少した電荷がSEBに寄与するためである．今後は，他の手法を用いて破壊痕を抑制できるかを検討する．