[24p-P07-1~11] 23 合同セッションN「インフォマティクス応用」（ポスター）

[24p-P07-8] 放射光XRDパターン解析の自動化と残留応力マッピングへの応用

〇屋内 一馬¹、久野 敬司¹、鈴木 覚¹、関 紀子¹、長谷川 準¹、小野 泰輔¹ (1.株式会社デンソー)

キーワード：

クラスタリング,残留応力,X線回折

製品性能の向上と製品寿命の評価のために、製品を構成する材料の残留応力を高強度・高輝度な放射光を用いて、材料の表面全体のXRDパターンを測定・解析することが必要である。しかし、①XRDパターン解析のスループットはあまり向上しておらず、➁大量のXRDパターンを手動で解析すると結果に人為的な分散と偏りが生じる。そこで、本研究ではXRDパターンの自動解析法の開発と樹脂材料の残留応力分布の可視化を行った。