[24p-P16-1~41] 21 合同セッションＫ「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」（ポスター）

[24p-P16-9] 金属 Sn 薄膜の硫化時圧力に依存する SnS 表面形態の評価

〇(M1)渡邉 大輝¹、守屋 賢人¹、相川 慎也¹ (1.工学院大工)

キーワード：

硫化スズ,表面形態,薄膜