講演情報
[25a-12B-7]金属表面粗さの偏光走査型偏光撮像による定量的可視化
〇(M1)清水 智哉1、鈴木 雅人1,3、坂本 盛嗣1,3、野田 浩平1,3、佐々木 友之1,3、原川 良介1、岩橋 政宏1、川月 喜弘2,3、小野 浩司1,3 (1.長岡技科大、2.兵庫県立大、3.CREST, JST)
キーワード：
偏光イメージング,ストークスパラメータ,偏光回折格子
偏光照射環境下での偏光撮像は、ミュラー行列の多くの要素による作用を取得可能であるため、より被写体の情報を詳細に可視化できる。我々は、こうした手法に則った偏光走査型偏光撮像法（以下、PPPI法）を用い、産業分野における金属製品の表面状態(磨き具合)に基づく定量的評価を試みた。結果として、凹凸分布が滑らかになるほど光散乱による偏光解消が抑制され、偏光度が向上する結果が得られた。