[25p-12M-1~13] 7.1 X線技術

13:15 〜 13:30

[25p-12M-2] 軟X線収量測定による出現電位分光

〇柏倉 隆之¹ (1.宇都宮大工)

キーワード：

出現電位分光,バルク敏感,化学状態分析

比例計数管により軟X線収量を測定する出現電位分光（APS）装置の製作と、希土類元素 M_4,5吸収端及び3d遷移金属L_2,3吸収端のAPSの測定結果について報告する。測定試料は酸化物粉末を用いた。X線分光器を通さずに収量を測定することで、化学量論比が小さい元素についてもAPS測定が可能となる。講演では、コンタミネーション層の堆積の仕組みとAPS測定への影響等についても言及する。