講演情報

[15a-S2_202-3]研究炉の陽電子線源部に使用する白金モデレータの照射損傷評価

〇(M1)原嶋 和輝1,2、木野村 淳2、土田 秀次1 (1.京大院工、2.京大複合研)

キーワード:

低速陽電子ビーム、放射線損傷、陽電子モデレータ

研究用原子炉の陽電子線源部に用いる減速材(モデレータ)は、中性子照射による損傷を受ける。本研究では、陽電子の減速効率が照射損傷量と試料温度に対して受ける影響を評価した。多結晶Pt箔試料に対し、MeVオーダーの自己イオン(Ptイオン)照射で中性子照射損傷を模擬し、陽電子消滅分光とVEPFITコードを用いて欠陥評価と陽電子拡散長を解析。高温条件で欠陥回復が促進され、モデレータの長寿命化の可能性を示す。