セッション詳細

[15a-S2_202-1~10]CS.1 2.3 加速器技術・加速器質量分析・ビーム分析、7.4 イオンビーム一般のコードシェアセッション

2026年3月15日(日) 9:00 〜 11:45
S2_202 (南2号館)

[15a-S2_202-1]同一比電荷を持つ異種多価イオンビームのガイド効果

〇湯浅 茉璃1、青木 駿太2、新井 佑哉2、沖 明里咲2、本橋 健次1,2 (1.東洋大院生命、2.東洋大理工)

[15a-S2_202-2]SSDを用いた飛行時間測定によるTOF-ERDAの水素検出効率向上

〇(M2)仙田 敬1、中島 詩桜1、西村 通弥1、今村 暁1、河村 桃花1、森下 瑞生1、間嶋 拓也2、安田 啓介1 (1.京府大生命環、2.京大院工)

[15a-S2_202-3]研究炉の陽電子線源部に使用する白金モデレータの照射損傷評価

〇(M1)原嶋 和輝1,2、木野村 淳2、土田 秀次1 (1.京大院工、2.京大複合研)

[15a-S2_202-4]Niイオン注入によるサファイア基板の表面抵抗制御と電子伝導機構の検討

〇(M1)金子 月海1、小倉 暁雄2、片桐 創一2 (1.筑波大電物、2.筑波大数理物質系)

[15a-S2_202-5]イオン照射されたダイヤモンドのX線光電子分光

〇(M1)垣内 晴名1、尾崎 孝一2、高廣 克己1 (1.京工繊大、2.滋賀県工業技術総合センター)

[15a-S2_202-6]Li 金属表面における局所的変質挙動のイオンビーム分析による解明

〇松野尾 尚子1、小北 哲也1、林 裕美1、山元 春美1、松村 海佑1、辻 洋悦1、青木 靖仁1 (1.㈱東レリサーチセンター)

[15a-S2_202-7]水およびArクラスター照射下での分子イオン生成過程の検討

〇盛谷 浩右1、徳 泰成1、乾 徳夫1 (1.兵庫県大工)

[15a-S2_202-8]単分散mPEGを用いたAr-GCIBスパッタリングによる分子損傷の加速電圧依存性

〇(M2)水谷 優里1、松尾 二郎1、瀬木 利夫1 (1.京大院工)

[15a-S2_202-9]Ar-GCIB照射による結合解離の加速電圧依存性

〇加藤 大智1、瀬木 利夫2、松尾 二郎2、藤井 麻樹子3 (1.横浜国大理工、2.京大院工、3.横浜国大院環情)

[15a-S2_202-10]反応性ガス雰囲気下GCIB照射の極低温でのエッチング効果

〇(M1)北中 晴也1、伊藤 汰一1、竹内 雅耶1、豊田 紀章1 (1.兵庫県大工)